TOPCON拓普康紫外線檢測器UVR-T2

更新時間：2025-05-12 點擊次數(shù)：49

TOPCON 拓普康 UVR - T2 是一款工業(yè)紫外線檢測器，以下是其相關(guān)介紹：

測量功能豐富：具備實時照度測量、峰值測量、累計光量測量、偏差測量等多種功能，能滿足不同場景下對紫外線測量的需求。
使用便捷：設(shè)有根據(jù)光源照度設(shè)定最佳范圍的自動模式，操作更加簡單方便，提高了測量效率。通過安裝 2m 延長裝置（另售），可將受光部設(shè)置在遠程位置進行測量，增加了測量的靈活性。
數(shù)據(jù)處理與輸出方便：標準配備內(nèi)置存儲器、USB 輸出、模擬輸出，可方便地存儲和傳輸測量數(shù)據(jù)。同時，標配可在 PC 上使用的測量程序，便于對測量數(shù)據(jù)進行進一步的分析和處理。
供電方式靈活：支持 USB 總線供電操作，也可使用 3 節(jié) AAA 電池（市售）供電，方便在不同環(huán)境下使用。
測量穩(wěn)定：采用耐熱金屬機身，并附帶耐熱蓋，能在一定程度上抵御高溫環(huán)境，確保測量更穩(wěn)定。

電氣和電子元件生產(chǎn)：適用于電氣和電子元件的固化、密封和粘合處理過程中紫外線照射設(shè)備的燈強度管理。通過測量紫外線強度，可控制傳送帶速度、燈泡強度分布和更換時間，有助于提高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。
印刷電路板制造：可用于印刷電路板的印刷、干燥和安裝線中紫外線照射設(shè)備的監(jiān)測，確保紫外線照射強度符合工藝要求，從而保證印刷電路板的質(zhì)量。
半導體和 FPD 制造：在半導體、FPD 等光刻工藝中，用于管理光刻設(shè)備中的曝光燈。通過精確測量紫外線強度，有助于保證光刻工藝的精度和一致性，提高產(chǎn)品的良率。
紫外線處理設(shè)備維護：適用于各種 UV 照射設(shè)備 UV 燈的維護和管理，如 UV 消毒設(shè)備、滅菌設(shè)備、改性設(shè)備、固化設(shè)備、清洗設(shè)備、表面處理設(shè)備等。通過定期測量紫外線強度，可及時發(fā)現(xiàn) UV 燈的老化或故障，以便及時更換或維修，保證設(shè)備的正常運行。
UV 燈開發(fā)與制造：在各種 UV 燈開發(fā)部門、制造工序中，可用于檢查及評估 UV 燈的性能，幫助優(yōu)化 UV 燈的設(shè)計和生產(chǎn)工藝。

受光單元：有 UD - T25T2、UD - T36T2、UD - T40T2、UD - T3040T2 等多種類型的受光單元可供選擇，探測器為硅光二極管，測量波長范圍分別為 230 - 280nm、300 - 390nm、350 - 490nm、290 - 430nm，峰值靈敏度波長分別約為 255nm、355nm、410nm。
輻照度顯示范圍：不同受光單元和測量范圍有所不同，一般分為多個量程，如 0.01 - 30.0mW/cm2、0.1 - 300.0mW/cm2、1.0 - 3000.0mW/cm2 等。
校準精度：±2%。
線性度：±3%。
模擬輸出：0 - 2.0Vmax.（所有量程通用），輻照度與模擬輸出電壓有一定的對應關(guān)系，如在某些范圍內(nèi) 1mV 對應 0.015mW/cm2 等。
數(shù)據(jù)采樣：采樣時間 50Hz 時為 10ms，60Hz 時為 8.33ms；采樣率 50Hz 時為 50 次 / 秒，60Hz 時為 60 次 / 秒。
使用條件：溫度 10 - 60℃，濕度 85％RH 以下（無凝露）。
外形尺寸：75×201×16mm（無隔熱蓋）。
質(zhì)量：約 320 克（包括電池，無隔熱蓋）